ICT治具相對來說有哪些優(yōu)勢？

　　1、測試時間短：一片組裝300個零件的電路板，測試時間短到3 ~ 4秒鐘。
　　2、重測性優(yōu)良：由計(jì)算機(jī)程控，精確量測，所以不會造成誤判、漏測，增加生產(chǎn)線的困擾。
　　3、現(xiàn)場技術(shù)依存性低：只要稍加訓(xùn)練，一般人員即可輕松操作及維護(hù)。 產(chǎn)品修理成本大幅降低：一般作業(yè)人員即可負(fù)責(zé)產(chǎn)品維修的工作，有效的降低成本，對應(yīng)產(chǎn)品壽命期短的趨勢，是有效的利器。

　　因?yàn)槊恳环N技術(shù)都補(bǔ)償另一技術(shù)的缺點(diǎn)：從將AXI技術(shù)和ICT測試治具技術(shù)結(jié)合起來測試的情況來看，一方面，X射線主要集中在焊點(diǎn)的質(zhì)量。它可確認(rèn)元件是否存在，但不能確認(rèn)元件是否正確，方向和數(shù)值是否正確。另一方面，ICT可決定元件的方向和數(shù)值但不能決定焊接點(diǎn)是否可接受，特別是焊點(diǎn)在封裝體底部的元件，如BGA、CSP等。隨著AXI技術(shù)的發(fā)展，目前AXI系統(tǒng)和ICT系統(tǒng)可以“互相對話”，這種被稱為“AwareTest”的技術(shù)能消除兩者之間的重復(fù)測試部分。

　　通過減小ICT/AXI多余的測試覆蓋面可大大減小ICT的接點(diǎn)數(shù)量。這種簡化的ICT測試只需原來測試接點(diǎn)數(shù)的30%就可以保持目前的高測試覆蓋范圍，而減少ICT測試接點(diǎn)數(shù)可縮短ICT測試時間、加快ICT編程并降低ICT夾具和編程費(fèi)用。